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1、激光衍射法：主要測定微米級顆粒。激光衍射法的結果計算可以在體積分布、面積分布，或數量分布的基礎上顯示。注意：粒度分布計算至少需要知道樣品的相對折射率和光吸收率以及非球形因子等參數，否則就會造成較大偏差，而得到這些參數對混合粉體顆粒是幾乎不可能的。這種方法是目前流行的方法，但它對少量大顆粒不敏感，并且只適用于球形或類球形顆粒。

2、動態(tài)光散射法適用于納米級顆粒的測定。動態(tài)光散射（DLS）的主要結果是強度分布平均值（稱為 Z 平均）和描述分布寬度的多分散指數（PDI）,其得到的粒徑稱為水合動力學直徑（或水力直徑）。如果已知樣品的折射率，強度分布可以轉換成體積分布。光散射電泳法可測量 zeta 電位。

3、超聲衰減法基于體積分布的 超聲法粒度及 zeta 電位分析儀, 可覆蓋納米區(qū)域和微米區(qū)域的測量。其聲譜模型假設的結果是一個或兩個峰的正態(tài)分布。假設正態(tài)分布時，可以完整地描述結果的平均值和標準差，這是系統報告結果的一個常用方法。因為粒度分布計算需要知道樣品的聲學參數，在這些參數不時，很難與激光衍射法計算的結果對應。但如果兩種方法各自需要的計算參數已知，則兩種技術的分析結果可以相符。

4、圖像分析法主要覆蓋微米到厘米區(qū)域的粒度測定。圖像分析的初級結果是建立在數量分布基礎上的，然后轉換成體積分布。這是*的有效轉換。圖像分析比任何其他技術和選項能提供多得多的數據值，它可以測量每個顆粒的粒徑，使用戶計算和報告粒度結果具有的靈活性。圖像分析儀器可報告顆粒的長度分布，也可以建立基于顆粒形狀（不是球形）的體積分布。能有多少方法測量顆粒大小圖像法 zeta 電位分析儀是 zeta 電位分析的基準儀器。